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TOP＞用語検索方法選択＞技術分野検索：【検査（Test）】 １．テスタ ・ DUTボード (Device Under Test Board) ・ EB Tester (Electron Beam Tester) ・ LVP (Laser Voltage Probe) ・ OBIC (Optical Beam Induced Current) ・ TDRタイミング測定手法 (Time Domain Reflection) ・ 液晶法 (Liquid Crystal Analysis) ・ エミッション顕微鏡 ・ Captureクロック ・ シェアード・リソース（Shared Resource） ・ 縮退故障 ・ 同時測定効率 (Multi-site efficiency) ・ 同時測定 ・ 同測 ・ パーピンTGリソース (Per-pin TG Resource) ・ パターン圧縮器 ・ ブリッジ故障 ・ フルパーピン・リソース (Full Per-pin Resource) ・ ユニバーサル・スロット構造 (Universal Slot Architecture) ・ ΔIDDQ方式 ・ IDDQ-Ratio方式 ・ DPS ・ MCP ・ ＳiＰ ・ KGD ・ KTD ・ RTL ・ BOST ・ BIST ・ 構造可変テスタ ・ 外部ループバック ・ ゴールデンデバイス ・ エンファシス ・ RSDS (Reduced Swing Differential Signaling) / mini LVDS (Low Voltage Differential Signaling) ・ 時間分解発光解析 (Time Resolved Photo Emission Microscope) ・ DALSあるいはRIL/SDL ２．プローブカード ・ プローブカード (Probe Card) ・ カンチレバー型 (Cantilever type) ・ バーチカル型 (Vertical type) ・ メンブレン型 (Memblane type) ・ 同軸型 (Co-axial probe) ・ ブレード型 (Blade type) ・ オーバードライブ (Over drive) ・ スクラブ (Scrub) ・ L.O.C. (Lead On Chip) ・ ペリフェラル (Peripheral) ・ エリア・アレイ (Area array) ・ MEMS型プローブ (MEMS type probe tip) ・ インターポーザ (Interposer) ・ スペーストランスフォーマ (Space transformer)

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